第1章 フリップチップ実装の基本
1 実装の役割
2 フリップチップの優位点
3 SLT/MST実装
4 実装の階層
5 セラミックPGA
6 IBMシステム/3033 ゲート
7 熱伝導モジュールとボード
8 ワークステーション用実装
9 SoCとSoP(SiP)
10 古典的フリップチップ接続部
11 DNP 制御チップ
12 ベアチップ実装の発表-1991
13 樹脂封止の応力解析
14 各種フリップチップ接続部
15 初期のアプリケーション
16 フリップチップ接続部の方式
第2章 接続部と基板の技術
1 一般的半導体パッケージ断面
2 引き出し線コンセプト
3 チップバンプ
4 チップバンプ形成
5 基板端子処理
6 ソルダーインジェクション
7 スキャンソルダー
8 スクリーン印刷によるバンプ形成
9 スタッドバンプによるフリップチップ
10 接続部断面
11 基板接続部端子比較
12 ビルドアップ基板の種類
13 パターン銅めっき配線
14 シード層処理
15 微細配線の例
16 銅めっきの対樹脂接着
17 表皮効果
18 導体表面粗さの影響
19 レーザドリルによるビアホール
20 特性インピーダンス
21 配線幅とビアホール径
22 スルーホールドリル
23 フリップチップBGA工程ステップ
24 はんだリフロー工程
25 封止樹脂塗布の不良例
26 封止樹脂の塗布方法
27 封止後のチップ交換
28 BGA接続部
第3章 信頼性と故障の要因
1 パッケージの課題要因
2 フリップチップ接続の課題要因
3 基板の課題要因
4 一般的加速試験
5 プリコンディショニング
6 JEDEC標準
7 樹脂封止の応力解析
8 境界金属層の拡散
9 境界金属層の剥離
10 境界金属層拡散の確認
11 はんだマイグレーション
12 封止樹脂の加水分解
13 はんだのブリッジ
14 封止樹脂のクラック
15 封止樹脂応力による基板クラック
16 材料間の剥離
17 チップクラック例
18 基板に関する故障モード
19 BGA接続部寿命
20 片面と両面実装の寿命比較
21 故障モードごとの疲労破壊寿命
22 システムインパッケージの課題
23 KGD仕様 |
第4章 現状の課題と解決策
1 Low-kに起因するパッケージの問題点
2 工程中の変形と樹脂封止の効果
3 チップ絶縁層クラック
4 古典的フリップチップ接続部
5 基板熱膨張係数改善
6 接続部付近の熱膨張関係
7 接続部疲労破壊
8 リフロー直後
9 高融点鉛はんだ
10 エレクトロマイグレーション
11 EMによる接続部寿命
12 樹脂封止の効果
13 接続部の変形
14 ビアホールのめっき接続
第5章 今後の方向と新技術への要求
1 半導体チップの動向
2 今後の密度向上
3 異なるパッケージによるSiP
4 パッケージサイズの効果
5 半導体配線と実装基板配線
6 2D要求のまとめ
7 新材料・新プロセス - 超低熱膨張基板
8 新材料・新プロセス - 超低熱膨張有機フィルム
9 半導体チップ3次元積層要因図
10 参考事例 - SoCとSiP
11 シリコン基板の課題
12 鉛フリーはんだの問題
13 極低温はんだ使用製品例
14 インジウム系はんだ接続部例
15 インジウム接続部寿命例
16 はんだ使用量に対する考察
17 極低融点実装のメリット
18 今後の実装方式 |